Kategorie: / Technika:

Innova

Cenově nejvýhodnější výzkumné AFM

Mikroskop atomárních sil Innova nabízí vyšší rozlišení a menší šum než jakékoli jiné AFM ve své cenové třídě díky unikátnímu systému linearizace skenování se zpětnou vazbou, který se výkonově blíží vyšší třídě systémů bez zpětné vazby. Innova se svými širokými možnostmi přizpůsobení nabízí cenově nejefektivnější řešení pro rutinní zobrazování povrchu ve fyzikálních, materiálových a přírodních vědách.

Mikroskop Innova byl navržen pro snadné, rutinní použití s krátkou dobou přípravy experimentu a současně s maximální flexibilitou pro dostupné SPM a AFM módy. Optimalizovaný elektromechanický design zajišťuje nízký drift (3 nm/min) a šum (<0,2 nm v ose Z, <1,2 nm v osách X-Y) pro rutinní zobrazování s vysokým rozlišením. Výjimečně jednoduché a rychlé použití zahrnuje například krátký čas potřebný pro zahřátí přístroje před měřením, rychlou výměnu hrotu, intuitivní software nebo optiku pro přesnou identifikaci bodů zájmu apod.

AFM režimy:

Standardní - Contact Mode, TappingMode, PhaseImaging, LiftMode, Magnetic Force Microscopy (MFM), Electrostatic Force Microscopy (EFM), Dark Lift, Lateral Force Microscopy, NanoIndentation, Force Spectroscopy

Volitelné - Scanning Tunneling Microscopy, Low-Current Scanning Tunneling Microscopy (LC-STM), Force Modulation Microscopy (FMM), Piezo Response Microscopy, Electrochemical Scanning Probe Microscopy (ECSPM), Single- and dual-pass Kelvin Probe Force Microscopy (KPFM), Conductive Atomic Force Microscopy (CAFM), Scanning Capacitance Microscopy (SCM), Nanolithography,Nano Thermal Analysis (VITA)

Innova se také dodává ve variantě IRIS s integrovaným TERS systémem (Tip Enhanced Raman Spectroscopy), který poskytuje dodatečné informace o chemickém složení vzorku.

Pro více informací navštivte web výrobce Innova, prohlédněte si brožuru, nebo nás kontaktujte.


Měřicí technika Morava s.r.o. | Babická 619 | 664 84 Zastávka u Brna | tel.: + 420 513 034 408 | e-mail: info@mt-m.eu

Created by> eX-press.cz